Рис. 27. Структурная схема функционального контроля, использующего метод сравнения с эталоном
микроЭВМ, позволяющие резко сократить время испытаний каждой микросхемы, а следовательно, и стоимость их проведения. Благодаря созданным системам контроля осуществляют функциональную, параметрическую и динамическую проверки.
При функциональной проверке на вход микросхемы в произвольной последовательности подается комбинация тестовых сигналов, а на выходе производится измерение уровня выход- I ных сигналов. Параметрическая проверка заключается в измерении на выводах микросхемы напряжений и токов при подаче I на нее комбинированных сигналов. При динамической проверке устанавливают влияние спада и задержки (времени включения, I выключения, нарастания) на распределение импульсных сиг-1 налов контролируемой микросхемы.